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Testsystem TSG Chrysler LX

Testsystem - TSG Chrysler LX Entwicklungsmessplatz

Entwicklungsmessplatz für Türsteuergeräte. Diese Art von Testsystemen werden in den Entwicklungsabteilungen der Automobilzulieferer eingesetzt. Mit diesen Systemen ist es den Entwicklern möglich, das Türsteuergerät in den verschieden Entwicklungsstufen durchzumessen, und somit bis zum Vorserienprodukt zu verbessern.

Die eigens dafür entwickelten Ein- und Ausgangskarten TSGE und TSGL erhöhen die Flexibilität und Messgenauigkeit. Bei der Entwicklung der TSGE-Karte wurde auf äußerst flexibles Layout geachtet, so dass alle möglichen Eingangsvarianten (Reihenschalter, Einzelschalter, BCD-Schalter oder BUS-Beschaltungen) möglich sind. Zum Messen der Eingangssignale ist bereits ein Multiplexer integriert, wodurch ein sehr hoher Verdrahtungsaufwand vermieden wird. Weitere Verdrahtungarbeiten fallen ebensowenig bei den Lasten an, da sich diese alle auf der TSGL-Karte befinden. Durch die kurze "Layoutverdrahtung" wird die Messgenauigkeit um ein Vielfaches gesteigert. Die beiden Kartentypen werden im Testsystem nicht über Drähte, sondern über die dafür entwickelten Mutterplatinen, TSGEM1 und TSGLM1, verbunden. Somit sind die Karten jederzeit problemlos austauschbar.

Bei den TSGE- und TSGL-Karten befindet sich jeweils auf der Frontplatte das Breakout-Field. Desweiteren werden Funktionen und Zustände über LEDs angezeigt.